重磅产品发布丨IAE智行众维发布基于场景仿真的芯片PIL测试系统

10月16日，苏州国际博览中心启幕，IAE智行众维携X-in-Loop智能驾驶仿真测试全栈式解决方案亮相第29届智能交通世界大会。

19日，在同期的苏州市智能车联网产业创新集群推进会暨第五届全球智能驾驶大会上，IAE智行众维展示了自研的iTT系列数据采集设备，并发布基于场景仿真的芯片PIL测试系统。

该测试系统能够帮助客户高效便捷地开展测试管理工作，推动功能安全在芯片及软件测试领域的落地。